高压陶瓷电容器的测验方法

可靠性高，体积小，充放电寿命长，电压高达150kV，放电电流大，介质损耗＜0.1%。

高压陶瓷电容器的可靠性测验，也叫老化测验，寿数测验，包含很多方面的测验内容：

1、串联电阻测验，绝缘电阻测验；

2、拉力测验，即引线与芯片焊接的结实度；

3、正负温改变率测验，即-40度到+60度状况下，电容的改变率；

4、老化测验，高压陶瓷电容在模仿作业环境状态下运作30~60天，测验其衰减其各项参数的改变；

5、耐压试验，包含额定作业电压24小时作业测验；也包含击穿耐压，即破坏性测验，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。

6、局放测验，即部分放电测验；

7、寿数测验，即在老化测验的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测验，得到的充放电次数就是充放电寿数，留意，这个寿数的得出是在长时间的老化之后得出的。

电容器之独石电容是什么呢？

电容器之独石电容多层陶瓷电容器的别称， 简称MLCC，广泛应用于电子精密仪器。各种小型电子设备作谐振、耦合、滤波、旁路。

因此，多层片式陶瓷电容器的结构主要包括三大部分：陶瓷介质，金属内电极，金属外电极。而多层片式陶瓷电容器它是一个多层叠合的结构，简单地说它是由多个简单平行板电容器的并联体。

电容器在yiliao器械中选型及应用

用于MRI的新型无磁电容

磁共振成像(MRI)设备内部或周边电路中所使用的电容及其他电子元器件需要屏蔽或封装在MRI室外。电容的电介质、电极材料或端接材料中可能含有铁质或磁性材料。因为电力系统的特殊性1：交流电压高，高频，处于室外环境中(-40度到+60度)，雷击电压/电流大，等等各种因素，造成了高压陶瓷电容器在研发和生产中一直处于困境:环境的恶劣，要求电容具有超1强的稳定性，即变化率要小。为提高图像分辨率，MRI系统的磁场水平不断提高，而MRI室内使用的电容会造成磁场畸变。因此，需要减少或完全消除大部分电容中的磁性材料。

较新推出的系列MLCC在电极和端子结构中采用非铁材料，来满足消除磁化的要求。无磁结构可以采用X7R和NPO电介质。较新推出的系列MLCC在电极和端子结构中采用非铁材料，来满足消除磁化的要求。外形尺寸为0402至1812，符合相关规格。Vishay还在终测试时采用了专用电容分选设备，以确保所有无磁电容均能符合技术要求。